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二手TR-5001E测试仪 |
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◆ 多重安全性设计，确实保障操作人员率先引进TestJet Technology技术，检测SMT元件开路空焊问题，效果好 ◆ 应用IC Clamping Diode技术，可辅助检测 BGA 开路空焊问题 ◆ 辅助学习模组可检测IC反向问题 ◆ 漏电流量测方式可辅助检测电容容性达50-60% ◆ 选项功能强大，可针对同之测试需求，加装如频率量测、 电压量测、电流量测 ◆ 具备1MHZ信号源，可量测小电容小电感 ◆ 具三点量测模式，可量测电晶体FET、SCR等元件，并可对Photo-Coupler提供四点量测，确实检测上述元件 之反插问题 ◆ 具Pin Contact检查功能 在线测试仪规格参数表 项 目 详 细 参 数 测试点数 标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点 大型主机(8u):可以每片关开板256点扩充至3584点
测试步骤 步骤: 12288步骤,可依需求扩充 测试时间 开路/短路测试:每1000点约1Sec(Typical DUT) 元件测试:每一元件约0.6mSec至30mSec(Typical DUT) 测试范围 电阻:0.1Ω至40MΩ 电晶体/二极体: 0.1V至9.99V 电容:1.0PF至100mF Zener Diode: 标准,0.1V至9.99V,选配HV,0.1V至48V 电感:1.0UH至60H 隔离点电路 隔离点自动选择,每测试步骤5点 测试值上下限设定范围 上限:+1%至999% 下限:-1%至-99% 可测电路板尺寸 标准配备: 420mm(宽)×300mm(深)×100mm(高) 选购配备: 500mm(宽)×350mm(深)×130mm(高),更大尺寸基板可依需求订做. 主控制电脑 Pentium等级以上PC 监视器 15〃夜晶显示器 记忆设备 3.5 1.44MB,磁碟机一台,80GB以上硬式磁碟机一台 列印机 标准配备:微型印表机 *其它选购配备 Windows作业系统环境,多国语言使用界面(英文、中文、日文） Trace Level 图形显示检修软体。
网路即时监控系统 如果把多台ICT连到内部网路系统，则每一台ICT的测试统计资料都可以在网路上的任何一台电脑上显示，管理者可以很方便地随时查看生产线的状况。 网路错误讯息查询系统 只要把ICT 和检修站都连到内部网路系统, 则在检修站就可以检视到不良板的所有错误讯息，包括：打印机的印出讯息和错误图形显示。 待测板图形显示功能 可在待测板不良发生时，明白显示不良零件或焊点的位置，亦可在零件位置查询时显示零件的位置，此功能可大大缩短不良品检修的时间和程式调适的时间。如果厂内有网路连线系统，则此图形亦可在维修站的萤幕上显示出来.
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